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以下內(nèi)容是行業(yè)相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)的節(jié)選，內(nèi)容與標(biāo)題沒(méi)有直接的相關(guān)性，只是為了利于搜索引擎的收錄，具體快速辦理CNAS認(rèn)證、CMA認(rèn)證項(xiàng)目細(xì)節(jié)及流程歡迎您和您的技術(shù)人員來(lái)電咨詢！

無(wú)損檢測(cè)是中國(guó)合格評(píng)定國(guó)家認(rèn)可委員會(huì)（英文縮寫(xiě)：CNAS）對(duì)實(shí)驗(yàn)室的認(rèn)可 領(lǐng)域之一，該領(lǐng)域涉及用無(wú)損檢測(cè)手段在生產(chǎn)車(chē)間、安裝工地、使用現(xiàn)場(chǎng)和實(shí)驗(yàn)室內(nèi) 對(duì)原材料、零部件、結(jié)構(gòu)和設(shè)備進(jìn)行的檢測(cè)。 本文件是CNAS根據(jù)無(wú)損檢測(cè)的特性而對(duì)CNAS—CL01：2006《檢測(cè)和校準(zhǔn)實(shí) 驗(yàn)室能力認(rèn)可準(zhǔn)則》所作的進(jìn)一步說(shuō)明，并不增加或減少該準(zhǔn)則的要求。因此，本文 件采用針對(duì)CNAS—CL01：2006《檢測(cè)和校準(zhǔn)實(shí)驗(yàn)室能力認(rèn)可準(zhǔn)則》的具體條款提 出應(yīng)用說(shuō)明的編排方式，故章節(jié)號(hào)是不連續(xù)的。 本文件需與CNAS—CL01：2006《檢測(cè)和校準(zhǔn)實(shí)驗(yàn)室能力認(rèn)可準(zhǔn)則》同時(shí)使用。

4.1.5e)實(shí)驗(yàn)室工作崗位的設(shè)置應(yīng)考慮到本領(lǐng)域?qū)嶒?yàn)室申請(qǐng)檢測(cè)項(xiàng)目的范圍、復(fù)雜 性和檢測(cè)頻次。 4.1.5g)鑒于本領(lǐng)域?qū)嶒?yàn)室檢測(cè)工作的特點(diǎn)，實(shí)驗(yàn)室應(yīng)按照其從事的無(wú)損檢測(cè)專(zhuān)業(yè) 類(lèi)別設(shè)立一名或多名技術(shù)監(jiān)督人員，該監(jiān)督人員應(yīng)有能力、有時(shí)間和有權(quán)力對(duì)其負(fù)責(zé) 的無(wú)損檢測(cè)專(zhuān)業(yè)的檢測(cè)工作提供足夠的技術(shù)指導(dǎo)和對(duì)檢測(cè)結(jié)果進(jìn)行評(píng)價(jià)和說(shuō)明。在缺 少技術(shù)監(jiān)督人員的情況下，實(shí)驗(yàn)室不得出具帶有認(rèn)可標(biāo)識(shí)的檢測(cè)報(bào)告。 在生產(chǎn)車(chē)間、安裝工地、使用現(xiàn)場(chǎng)等實(shí)驗(yàn)室以外工作場(chǎng)地檢測(cè)時(shí)，檢測(cè)人員應(yīng)按 技術(shù)監(jiān)督人員批準(zhǔn)的檢測(cè)工藝進(jìn)行工作，檢測(cè)報(bào)告須由技術(shù)監(jiān)督人員審核并簽字。 實(shí)驗(yàn)室應(yīng)制定保證技術(shù)監(jiān)督工作有效進(jìn)行的程序。

5.2.1從事特定行業(yè)（如航空、電力、船舶、特種設(shè)備等）的無(wú)損檢測(cè)工作時(shí)，應(yīng)按照這些行業(yè)的法律、行政法規(guī)要求，獲得該行業(yè)認(rèn)可的無(wú)損檢測(cè)人員資格證。 5.2.4對(duì)技術(shù)監(jiān)督人員和檢測(cè)工作人員的任職要求如下： ————技術(shù)監(jiān)督人員： ①應(yīng)具有無(wú)損檢測(cè)技術(shù)的專(zhuān)門(mén)知識(shí)和經(jīng)驗(yàn)；

并具有所負(fù)責(zé)監(jiān)督的無(wú)損檢測(cè)專(zhuān)業(yè)的 Ⅱ級(jí)及以上人員的資格； ②應(yīng)具有熟悉的有關(guān)材料性能、檢測(cè)過(guò)程和工作環(huán)境要求的知識(shí)； ③應(yīng)具有處理分析有關(guān)無(wú)損檢測(cè)數(shù)據(jù)和結(jié)果的經(jīng)驗(yàn)和能力； ④應(yīng)具有應(yīng)用有關(guān)標(biāo)準(zhǔn)檢測(cè)的經(jīng)驗(yàn)和依據(jù)相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)編制作業(yè)指導(dǎo)書(shū)的能力； ⑤應(yīng)具有提出編制/出具最終檢測(cè)報(bào)告的能力； ⑥應(yīng)具有保質(zhì)完成無(wú)損檢測(cè)和監(jiān)測(cè)工作的能力。 

————授權(quán)簽字人： 當(dāng)授權(quán)簽字人涉及對(duì)射線檢測(cè)的檢測(cè)項(xiàng)目負(fù)責(zé)時(shí)，其資格應(yīng)滿足射線探傷Ⅲ級(jí)人 員的資格；當(dāng)授權(quán)簽字人涉及對(duì)超聲檢測(cè)的檢測(cè)項(xiàng)目負(fù)責(zé)時(shí)，其資格應(yīng)滿足超聲探傷 Ⅲ級(jí)人員的資格；當(dāng)授權(quán)簽字人僅對(duì)其他無(wú)損檢測(cè)中某一項(xiàng)目（如磁粉、滲透、渦流、 聲發(fā)射等）負(fù)責(zé)時(shí)，其資格應(yīng)滿足該項(xiàng)無(wú)損檢測(cè)Ⅱ級(jí)人員的資格。 

當(dāng)授權(quán)簽字人對(duì)多項(xiàng)無(wú)損檢測(cè)總報(bào)告負(fù)責(zé)時(shí)，該授權(quán)簽字人必須同時(shí)滿足上述人 員資格要求。 ————檢測(cè)工作人員： ①應(yīng)具有所從事無(wú)損檢測(cè)專(zhuān)業(yè)的Ⅱ級(jí)人員的資格； ②應(yīng)至少具有所從事無(wú)損檢測(cè)專(zhuān)業(yè)的經(jīng)驗(yàn)； ③應(yīng)具有應(yīng)用有關(guān)標(biāo)準(zhǔn)的經(jīng)驗(yàn)和與具體的要求相適應(yīng)的能力；④應(yīng)具有處理分析無(wú)損檢測(cè)數(shù)據(jù)和結(jié)果的經(jīng)驗(yàn)和能力； ⑤應(yīng)具有保持工作記錄和編制常規(guī)報(bào)告的能力。

5.3.2在生產(chǎn)車(chē)間、實(shí)驗(yàn)室內(nèi)進(jìn)行射線檢測(cè)的，必須具備滿足放射線衛(wèi)生防護(hù)要求的 曝光室。在安裝工地、使用現(xiàn)場(chǎng)進(jìn)行X射線或γ射線檢測(cè)時(shí)，必須分別按照GBZ 117-2006《工業(yè)X射線探傷放射衛(wèi)生防護(hù)標(biāo)準(zhǔn)》或GBZ132-2008《工業(yè)γ射線探傷 放射衛(wèi)生防護(hù)標(biāo)準(zhǔn)》的規(guī)定劃分控制區(qū)和監(jiān)督區(qū)并設(shè)置警告標(biāo)志，檢測(cè)工作人員應(yīng)佩 戴個(gè)人劑量計(jì)并攜帶劑量報(bào)警儀。 

5.4檢測(cè)和校準(zhǔn)方法及方法的確認(rèn) 5.4.1總則 實(shí)驗(yàn)室應(yīng)根據(jù)本單位申請(qǐng)檢測(cè)的產(chǎn)品，依據(jù)申請(qǐng)認(rèn)可的檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)，編制無(wú)損檢測(cè) 工藝規(guī)程。無(wú)損檢測(cè)工藝規(guī)程通常包括通用工藝規(guī)程和/或工藝卡。 

5.5.2無(wú)損檢測(cè)儀器設(shè)備投入服務(wù)前，應(yīng)進(jìn)行校準(zhǔn)或核查；每次檢測(cè)前，應(yīng)進(jìn)行核查 或校準(zhǔn)，以證實(shí)其能滿足實(shí)驗(yàn)室規(guī)范的要求以及符合有關(guān)檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)的要求。

校準(zhǔn)或核 查要求執(zhí)行附錄A《無(wú)損檢測(cè)儀器設(shè)備校準(zhǔn)或核查要求》（規(guī)范性附錄），其他行業(yè)有 相關(guān)要求的執(zhí)行其校準(zhǔn)或核查要求。 

5.5.6實(shí)驗(yàn)室配置γ射線探傷源的，必須具有γ射線探傷源安全處置、安全運(yùn)輸、 安全存放和安全使用的管理制度，管理制度應(yīng)持續(xù)有效。

A.1射線檢測(cè) A.1.1射線設(shè)備均應(yīng)制作曝光曲線，曝光曲線每年至少核查一次；射線設(shè)備更換重要 部件或經(jīng)較大修理后，應(yīng)及時(shí)對(duì)曝光曲線進(jìn)行核查。 A.1.2黑度計(jì)（光學(xué)密度計(jì)）至少每6個(gè)月，應(yīng)采用標(biāo)準(zhǔn)密度片進(jìn)行核查，方法參照 JB/T4730.2附錄B要求。 A.1.3標(biāo)準(zhǔn)密度片每2年，應(yīng)進(jìn)行校準(zhǔn)（或內(nèi)部校準(zhǔn)），方法參照J(rèn)JG452-2006《黑 白標(biāo)準(zhǔn)密度片檢定規(guī)程》。 A.1.4個(gè)人劑量計(jì)、劑量報(bào)警儀應(yīng)按相關(guān)的國(guó)家計(jì)量檢定規(guī)程的要求送法定計(jì)量檢定 機(jī)構(gòu)進(jìn)行檢定。 

A.1.5觀片燈的亮度和均勻度，應(yīng)每年進(jìn)行核查或校準(zhǔn)。 A.2超聲檢測(cè) A.2.1初次使用的標(biāo)準(zhǔn)試塊、對(duì)比試塊，應(yīng)有有效的合格證書(shū)。 A.2.2標(biāo)準(zhǔn)試塊、對(duì)比試塊每次使用前，應(yīng)進(jìn)行外觀腐蝕及機(jī)械損傷情況核查；每隔 4年應(yīng)采用經(jīng)校準(zhǔn)的器具對(duì)其半徑及其它尺寸進(jìn)行核查。 

A.2.3脈沖反射式超聲波探傷儀每1年，應(yīng)進(jìn)行校準(zhǔn)（或內(nèi)部校準(zhǔn)），方法參照J(rèn)JG 746-2004《超聲波探傷儀檢定規(guī)程》。 A.2.4脈沖反射式超聲波探傷儀每隔3個(gè)月，應(yīng)采用標(biāo)準(zhǔn)試塊進(jìn)行水平線性、垂直線 性核查，方法參照J(rèn)B/T10061-1999《A型脈沖反射式超聲探傷儀通用技術(shù)條件》。 A.2.5探頭使用前，應(yīng)進(jìn)行前沿距離（入射點(diǎn)）、K值（折射角β）與雙峰、主聲束 偏離等主要參數(shù)核查，方法參照J(rèn)B/T10062-1999《超聲探傷用探頭性能測(cè)試方法》。 

A.2.6超聲檢測(cè)系統(tǒng)每次使用前，斜探頭應(yīng)進(jìn)行前沿距離（入射點(diǎn)）、K值（折射角 β）與主聲束偏離等核查；直探頭應(yīng)進(jìn)行始脈沖寬度（在基準(zhǔn)靈敏度下）、靈敏度余量和分辨力等核查，方法參照J(rèn)B/T9214-1999《A型脈沖反射式超聲波探傷系統(tǒng)工 作性能測(cè)試方法》和/或JB/T10062-1999《超聲探傷用探頭性能測(cè)試方法》。

 A.3磁粉檢測(cè) A.3.1永久磁鐵或電磁軛磁粉探傷機(jī)的提升力，至少每半年應(yīng)采用經(jīng)校準(zhǔn)的提升力重 力試塊進(jìn)行核查。 A.3.2提升力重力試塊，每2年應(yīng)采用經(jīng)校準(zhǔn)的秤重器具進(jìn)行核查。 

A.3.3磁粉檢測(cè)設(shè)備的電流表，至少每半年進(jìn)行核查或校準(zhǔn)（或內(nèi)部校準(zhǔn)）。 A.3.4黑光輻照計(jì)、照度計(jì)、磁場(chǎng)強(qiáng)度計(jì)、毫特斯拉計(jì)等，至少每年進(jìn)行核查或校準(zhǔn) （或內(nèi)部校準(zhǔn)）。 A.3.5設(shè)備內(nèi)部短路檢查、電流載荷、通電時(shí)間等，至少每年進(jìn)行核查。

A.3.6磁粉檢測(cè)系統(tǒng)綜合性能（系統(tǒng)靈敏度），每次檢測(cè)前，用標(biāo)準(zhǔn)試片、標(biāo)準(zhǔn)試塊 進(jìn)行核查。 A.3.7對(duì)于熒光磁粉檢測(cè)，每次檢測(cè)前，應(yīng)采用黑光輻照計(jì)對(duì)被檢測(cè)表面的黑光輻照 度進(jìn)行核查，采用白光照度計(jì)對(duì)周?chē)h(huán)境的白光亮度進(jìn)行核查；對(duì)于非熒光磁粉檢測(cè)， 每次檢測(cè)前，應(yīng)采用白光照度計(jì)對(duì)周?chē)h(huán)境的白光亮度進(jìn)行核查。 

A.4滲透檢測(cè) A.4.1黑光輻照度計(jì)、熒光亮度計(jì)和照度計(jì)等，至少每年進(jìn)行核查或校準(zhǔn)（或內(nèi)部校 準(zhǔn)）。

A.4.2對(duì)于熒光滲透檢測(cè)，每次檢測(cè)前，應(yīng)采用黑光輻照計(jì)對(duì)被檢測(cè)表面的黑光輻照 度進(jìn)行核查，采用白光照度計(jì)對(duì)周?chē)h(huán)境的白光亮度進(jìn)行核查；對(duì)于非熒光滲透檢測(cè)， 每次檢測(cè)前，應(yīng)采用白光照度計(jì)對(duì)周?chē)h(huán)境的白光亮度進(jìn)行核查。 A.5厚度檢測(cè) A.5.1超聲測(cè)厚儀每1年，應(yīng)進(jìn)行校準(zhǔn)（或內(nèi)部校準(zhǔn)），方法參照J(rèn)JG403-1986《超 聲波測(cè)厚儀檢定規(guī)程》或JJF11266-2004《超聲波測(cè)厚儀校準(zhǔn)規(guī)范》。 

A.5.2涂層測(cè)厚儀每1年，應(yīng)進(jìn)行校準(zhǔn)（或內(nèi)部校準(zhǔn)），方法參照J(rèn)JG889-1995《磁 阻法測(cè)厚儀檢定規(guī)程》、JJG818-1993《電渦流式測(cè)厚儀檢定規(guī)程》