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  綜合環(huán)境試驗是在經(jīng)濟(jì)和技術(shù)條件允許的情況下，盡可能做到在試臉箱(室)內(nèi)再現(xiàn)產(chǎn)品在實際工作條件下所經(jīng)歷.鉤各種環(huán)境及變化情況。因此，通過試驗后的試件在實際工作中不再發(fā)生或很少發(fā)生新的失效，從而達(dá)到最高的可靠性。

  對于電子產(chǎn)品，單純的溫度試驗（ruihongshiye）主要以熱應(yīng)力的形式造成材料或機(jī)械的損壞，也可因極端的溫度而使靈敏件直接損壞單純的濕度試驗僅能使部件產(chǎn)生腐蝕和電介質(zhì)變質(zhì)若只有低氣壓條件，則只造成機(jī)械變形，放電和冷焊等效應(yīng)振動、沖擊與聲學(xué)作用，除了以機(jī)械應(yīng)力出現(xiàn)的拉伸、壓縮和疲勞等外，還有因零件對加速度、位移或頻率放感而造成失效。但如果將這幾種環(huán)境條件綜合起來，則除了出現(xiàn)上述的失效形式外，還將發(fā)生一些新的失效形式，也可使原有的失效形式加速。


可程式高低溫試驗箱具有模擬大氣環(huán)境中溫度變化規(guī)律。主要針對于電工，電子產(chǎn)品，以及其元器件及其它材料在高溫，低溫綜合環(huán)境下運輸，使用時的適應(yīng)性試驗。用于產(chǎn)品設(shè)計，改進(jìn)，鑒定及檢驗等環(huán)節(jié)。
指產(chǎn)品工作室能耐受和(或)能達(dá)到的極限溫度。通常含有能控制恒定的概念，應(yīng)該是可以相對長時間穩(wěn)定運行的極值。一般溫度范圍包括極限高溫和極限低溫。
這個指標(biāo)也有叫溫度穩(wěn)定度，控制溫度穩(wěn)定后，在給定任意時間間隔內(nèi)，工作空間內(nèi)任一點的zui高和zui低溫度之差。這里有個小小的區(qū)別“工作空間”并不是“工作室”，是大約工作室去掉離箱壁各自邊長的1/10的一個空間。這個指標(biāo)考核產(chǎn)品的控制技術(shù)。
一般標(biāo)準(zhǔn)要求指標(biāo)為≤1℃或±0.5℃。
舊標(biāo)準(zhǔn)稱均勻度，新標(biāo)準(zhǔn)稱梯度。溫度穩(wěn)定后，在任意時間間隔內(nèi)，工作空間內(nèi)任意兩點的溫度平均值之差的zui大值。這個指標(biāo)比下面的溫度偏差指標(biāo)更可以考核產(chǎn)品的核心技術(shù)，因此好多公司的樣本及方案刻意隱藏此項。
一般標(biāo)準(zhǔn)要求指標(biāo)為≤2℃
溫度穩(wěn)定后，在任意時間間隔內(nèi)，工作空間中心溫度的平均值和工作空間內(nèi)其它點的溫度平均值之差。雖然新舊標(biāo)準(zhǔn)對此指標(biāo)的定義和稱呼相同，但檢測已有所改變，新標(biāo)準(zhǔn)更實際，更苛刻一點，但考核時間短點。
一般標(biāo)準(zhǔn)要求指標(biāo)為±2℃，200℃以上可按實際使用溫度攝氏度(℃)±2%要求。