淄博森源電氣有限公司長期供應硬度計,測厚儀,測溫儀,粗糙度儀,測振儀,聲級計,噪音計,測距儀,水準儀,色差儀,粘度計,探傷儀等各種儀器儀表,詳情咨詢電話0533-6206158或登錄網(wǎng)站:http://www.testchina.net
同軸光體視顯微鏡PXS8-Te特點:
適用于電子線路板、芯片封裝、珠寶鑒定、研相礦本分析、微小精密零件品質控制、裝配、公安、銀行痕跡對比、教學示范、臨床手術樣本、農(nóng)業(yè)選種,紡織品檢驗、養(yǎng)殖業(yè)品種優(yōu)選、病理分析。PXS8-Te來自美國的品牌,目前國內僅有的高倍立體顯微鏡,我們采用和國外同步的同軸光技術,以滿足對透明封裝后的芯片特殊檢測標準的使用要求。
品質優(yōu)良的光學系統(tǒng)使圖像更明亮,即使長時間觀測眼睛也不會疲勞。
粗微動的調焦首次應用在高倍體視上,使高倍調焦變得更加精準。
多種支架的選配,總能滿足復雜工位的操作要求。
還有各種光譜光源的配合,幫助解決碰到的困難。
同軸光體視顯微鏡PXS8-Te主要技術參數(shù):
鏡筒:雙目,45度傾斜
高眼點大視野目鏡:PLAN10X/20 mm
物鏡:0.9X-7.4X
變倍比:1:8.2
總放大倍數(shù):9-74X
調焦:粗微動調焦,粗動立桿高度300mm,升降范圍105mm
工作距離:102mm
光源:同軸光.
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