集成電路高溫動態(tài)老化系統(tǒng)
產(chǎn)品詳情
符合標(biāo)準(zhǔn):GJB548(等同MIL-STD-883)、GJB 597(等同MIL-M-38510)
適用范圍:
適用于對各種數(shù)字、模擬、數(shù)?;旌霞呻娐泛蚐OC電路、微處理器、存儲器等微電子電路進(jìn)行高溫動態(tài)老化試驗。
工作特性:
● 一板一區(qū)工作方式,最多可同時進(jìn)行16種規(guī)格、批次的器件進(jìn)行篩選試驗,適應(yīng)多品種、小批量。
● 超溫報警裝置,確保溫度條件安全施加。
● 可檢測各組電源工作情況及試驗箱溫度并描繪其與時間相關(guān)的曲線。
● 軟件全編輯信號產(chǎn)生方式,可滿足包括存儲器在內(nèi)的多種集成電路器件的動態(tài)老化要求。
● 集成的用戶軟件包基于WINDOWS平臺開發(fā),功能完備并有良好的可擴(kuò)展性。
● 主從式RS485全雙工高速串行通訊接口,遠(yuǎn)距離通訊能力強(qiáng),數(shù)據(jù)傳輸安全可靠。
● 試驗容量和系統(tǒng)分區(qū)可根據(jù)實際情況另行配置。
● 試驗箱可選擇兩個小型試驗箱,每個試驗箱裝8塊老化板,可同時進(jìn)行兩個溫度條件的試驗。
● 可提供專用調(diào)式臺,具備獨立的DUT試運行接口和維修接口,方便試驗前或試驗中對DUT和老化板進(jìn)行試驗狀態(tài)檢查。
電子電路進(jìn)行高溫動態(tài)老化試驗。
技術(shù)性能:
型 號 ELEA-V ELEH-V
系統(tǒng)分區(qū) 16區(qū)(標(biāo)準(zhǔn))
試驗容量 208×16(以DIP14計) /
試驗溫度 最高150℃
數(shù)字信號路數(shù) 每板64路 每板8路
數(shù)字信號 每路可獨立編輯信號的數(shù)據(jù)、地址、控制、三態(tài)特性;信號最高頻率:2MHz;最小編程分辨率100ns,最小編程步長100ns;編程深度256k;信號幅度程控范圍:2.0V~18.0V;最大尋址深度:64G;數(shù)字信號可采用直接輸入、字符輸入、程序輸入三種方法編程;
模擬信號 多路多種類模擬信號發(fā)生單元及驅(qū)動電路,最高頻率可達(dá)1MHz;最大驅(qū)動電流:1A;信號幅度Vpp20V;直流偏移量:0~1/2Vpp;
試驗狀態(tài)監(jiān)測 64路信號示波監(jiān)測接口;寬范圍數(shù)字、模擬信號頻率自動測試、記錄;二級電源電壓監(jiān)測;
二級電源電流、信號峰值監(jiān)測(可選)
通訊速率 500K
二級電源 可程控VCC、VMUX、VEE;
輸出能力:2V~18V/10A;
具備灌電流能力; 2組正電源:VCC1(+2V~+36V)、VCC2(+2V~+36V);
2組負(fù)電源:VEE1(-2V~-36V)、VEE2(-2V~-36V);電流為最大10A;
具有過流、過壓及過熱保護(hù)功能;
電源要求 輸入:AC380V,50Hz,三相(220V單相可選);
整機(jī)功率:8kW以下 整機(jī)功率:12kW以下
重 量 約500kg
外形尺寸 (寬×高×深) 1313mm×1950mm×1350mm
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