名稱:XZK-613用途:該試驗箱適用于電子連接器、半導體IC、晶體管、二極管、液晶LCD、芯片電阻電容、零組件、電子零組件、金屬接腳沾錫性試驗前的老化加速壽命時間試驗;半導體、被動組件、零件接腳氧化試驗。 特點: 1.微電腦溫度控制器P.I.D.?+?P.W.M.?+?S.S.R.?控制LED數(shù)字顯示. 2.白金溫度感知器(PT-100)與精確的溫度可控制解析能力0.1C. 3.蒸汽試驗目標溫度設定控制/蒸汽試驗運轉(zhuǎn)計時時間設定控制. 4.全自動安全保護裝置、雙重高溫保護/蒸汽用水斷水空焚保護裝置.. 主要技術(shù)參數(shù): 測試槽尺寸:92*285*40(W*D*H)mm???3/4SET 加熱時間:RT~98℃About50min 溫度穩(wěn)定度:±0.3℃ 內(nèi)箱材質(zhì):304﹟不銹鋼 外箱材質(zhì):烤漆涂裝或304﹟不銹鋼符合標準:GB、ISO、ASTM、UL、CEN…
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