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[供應]惠州鍍層厚度涂層厚度檢測
- 產品產地：深圳
- 產品品牌：第三方檢測
- 包裝規(guī)格：商務服務
- 產品數(shù)量：0
- 計量單位：1
- 產品單價：0
- 更新日期：2019-05-31 13:49:46
- 有效期至：2019-07-01
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惠州鍍層厚度涂層厚度檢測
詳細信息
鍍層厚度檢測-聯(lián)系電話：199-2818-1165
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質的檢測咨詢服務
鍍層厚度測試檢測材料表面的金屬和氧化物覆層的厚度測試。檢測方法有1.金相法2.庫侖法3.X-ray方法。
金相法：
采用金相顯微鏡檢測橫斷面，以測量金屬覆蓋層、氧化膜層的局部厚度的方法。一般厚度檢測需要大于1um，才能保證測量結果在誤差范圍之內；厚度越大，誤差越小。
庫侖法：
適合測量單層和多層金屬覆蓋層厚度陽極溶解庫侖法，包括測量多層體系，如Cu/Ni/Cr以及合金覆蓋層和合金化擴散層的厚度。不僅可以測量平面試樣的覆蓋層厚度，還可以測量圓柱形和線材的覆蓋層厚度，尤其適合測量多層鎳鍍層的金屬及其電位差。測量鍍層的種類為Au、Ag、Zn、Cu、Ni、dNi、Cr。
X-ray方法：
適用于測定電鍍及電子線路板等行業(yè)需要分析的金屬覆蓋層厚度。
包括：金（Au），銀（Ag），錫（Sn），銅（Cu），鎳（Ni），鉻（Cr）等金屬元素厚度。
本測量方法可同時測量三層覆蓋層體系，或同時測量三層組分的厚度和成分。
檢測標準：1.
GB/T6462-2005金屬和氧化物覆蓋層厚度測量顯微鏡法
2.
ASTMB487-85(2007)StandardTestMethodforMeasurementofMetalandOxide
CoatingThicknessbyMicroscopicalExaminationofaCrossSection
3.
ASTMB764-04StandardTestMethodforSimultaneousThicknessandElectrode
Potential
Determination
ofIndividualLayersinMultilayerNickelDeposit(STEPTest)
4.
GB/T4955-1997金屬覆蓋層覆蓋層厚度測量
5.
GB/T16921-2005金屬覆蓋層覆蓋層厚度測量X射線光譜方法
6.
ASTMB568-98(2004)StandardTestMethodforMeasurementofCoatingThicknessby
X-RaySpectrometry
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