杭州熱銷導電性塑料四探針測試儀
該儀器采用高精度AD芯片控制,恒流輸出,結構合理、質量輕便,運輸安全、使用方便;適用于生產企業(yè)、高等院校、科研部門,是檢驗和分析導體材料和半導體材料質量的一種重要的工具。
FT-371超高阻雙電四探針測試儀
一、概述:本品為解決四探針法測試超高阻值材料方阻及電阻率,最大可以測試到1010Ω方阻值,是目前同行業(yè)中能測量到的最大方阻值,選購:本機還可以配合各類環(huán)境溫度試驗箱體使用,通過不同的測量治具滿足不同環(huán)境溫度下測量方阻和電阻率的需求.采用高精度AD芯片控制,恒流輸出,結構合理、質量輕便,運輸安全、使用方便;適用于生產企業(yè)、高等院校、科研部門,是檢驗和分析導體材料和半導體材料質量的一種重要的工具。本儀器配置各類測量裝置可以測試不同材料。液晶顯示,無需人工計算,并帶有溫度補償功能,電阻率單位自動選擇,儀器自動測量并根據(jù)測試結果自動轉換量程,無需人工多次和重復設置。選配:配備軟件可以由電腦操控,并保存和打印數(shù)據(jù),自動生成報表;本儀器采用4.3吋大液晶屏幕顯示,同時顯示液晶顯示:電阻、電阻率、方阻、溫度、單位換算、溫度系數(shù)、電流、電壓、探針形狀、探針間距、厚度 、電導率,配置不同的測試治具可以滿足不同材料的測試要求。測試治具可以根據(jù)產品及測試項目要求選購.
雙電測數(shù)字式四探針測試儀是運用直線或方形四探針雙位測量。該儀器設計符合單晶硅物理測試方法國家標準并參考美國 A.S.T.M 標準。利用電流探針、電壓探針的變換,進行兩次電測量,對數(shù)據(jù)進行雙電測分析,自動消除樣品幾何尺寸、邊界效應以及探針不等距和機械游移等因素對測量結果的影響,它與單電測直線或方形四探針相比,大大提高精確度,特別是適用于斜置式四探針對于微區(qū)的測試。
二、廣泛用于:覆蓋膜 導電高分子膜,高、低溫電熱膜 隔熱、防輻射導電窗膜 導電(屏蔽)布、裝飾膜、裝飾紙 金屬化標簽、合金類箔膜 熔煉、燒結、濺射、涂覆、涂布層,電阻式、電容式觸屏薄膜 電極涂料,其他半導體材料、薄膜材料方阻測試
三、參數(shù)資料
1.方塊電阻范圍:101~2×1010Ω/□
2.電阻率范圍:102~2×1011Ω-cm
3.測試電流范圍:1mA  ——-1pA   
4.電流精度:±0.1%讀數(shù)
5.電阻精度:108Ω以下≤5%  ;108Ω以上≤20%
6.顯示讀數(shù):液晶顯示:電阻、電阻率、方阻、溫度、單位換算、溫度系數(shù)、電流、電壓、探針形狀、探針間距、厚度 、電導率.
7.測試方式: 雙電測量
8.工作電源: 輸入: AC 220V±10% ,50Hz  功 耗:< 30W
9.整機不確定性誤差: ≤4%(標準樣片結果)
10.選購功能: 選購1.pc軟件; 2.方形探頭; 3.直線形探頭; 4.測試平臺
11.測試探頭:  探針間距選購:1mm;2mm;3mm三種規(guī)格 探針材質選購:碳化鎢針 白鋼針;鍍金磷銅半球形針
該儀器廣泛用于以下產品:硅晶塊、晶片電阻率及擴散層、外延層、ITO導電箔膜、導電橡膠等材料方塊電阻    半導體材料/晶圓、太陽能電池、電子元器件,導電薄膜(ITO導電膜玻璃等),金屬膜,導電漆膜,蒸發(fā)鋁膜,PCB銅箔膜,EMI涂層等物質的薄層電阻與電阻率    導電性油漆,導電性糊狀物,導電性塑料,導電性橡膠,導電性薄膜,金屬薄膜,抗靜電材料,  EMI  防護材料,導電性纖維,導電性陶瓷等