南京金凌環(huán)試儀器設備有限公司

半導體電阻率測試儀http://www.ruike17.cn/nbruike-Products-17372932/主要技術指標：

電源：220V交流

可測晶片直徑(最大)Ф100mm，方形230×220mm

恒流源：電流量程為0.01～1mA連續(xù)可調，誤差≦±0.5%。

數字電壓表：量程：0.1～200mV，最大分辨率：100μV

電阻率顯示：三位半數字顯示：小數點、極性、過載、自動顯示0.01-199.99歐姆。

輸入抗阻：0.2mV和2mV量程：>108Ω

測量精度：±0.1。

最大電阻測量誤差(按JJG508-87進行)：0.1Ω、1Ω、10Ω、100Ω≤±5%讀數±2個字。

重摻檢測誤差(JJG508-87進行)：1Ω≤±1%、0.5Ω≤±0.5%、0.1Ω≤±0.1%

測量環(huán)境：溫度23±2℃，相對濕度≤65%

半導體電阻率測試儀將范德堡測量方法推廣應用到直線四探針上，利用電流探針、電壓探針的變換，在計算機控制下進行兩次電測量，能自動消除樣品幾何尺寸、邊界效應以及探針不等距和機械游移等因素對測量結果的影響。半導體電阻率測試儀因而每次測量不必知道探針間距、樣品尺寸及探針在樣品表面上的位置。

半導體電阻率測試儀產品出處http://www.chem17.com/st262489/