產(chǎn)品名稱:CMI900-鍍層測厚儀 服務(wù)熱線:13712542526
電鍍層測厚儀,鍍層測厚儀,鎳層測厚儀,元素分析儀,X射線熒光測厚儀CMI900 是一款性價比極高的臺式 X 射線熒光光譜儀,應(yīng)用于涂鍍層厚度測量及材料成分分析。
涂鍍層厚度測量和/或成分分析,元素范圍 Ti - U
可同時進(jìn)行多達(dá)15層元素成分分析
測量方法符合ISO 3497,ASTM B568和DIN 50987
CMI900-鍍層測厚儀 技術(shù)參數(shù):
CMI 900 X-射線熒光鍍層厚度測量儀,在技術(shù)上一直以來都領(lǐng)先于全世界的測厚行業(yè)
A CMI 900 能夠測量包含原子序號22至92的典型元素的電鍍層、鍍層、表膜和液體,極薄的浸液鍍層
(銀、金、鈀、錫等)和其它薄鍍層。區(qū)別材料并定性或定量測量合金材料的成份百分含量可同時測定最多5層、15 種元素。
B :精確度領(lǐng)先于世界,精確到0。025um (相對與標(biāo)準(zhǔn)片)
C :數(shù)據(jù)統(tǒng)計報告功能允許用戶自定義多媒體分析報告格式,以滿足您特定的分析報告格式要求 ;
如在分析報告中插入數(shù)據(jù)圖表、測定位置的圖象、CAD文件等。
D :統(tǒng)計功能提供數(shù)據(jù)平均值、誤差分析、最大值、最小值、數(shù)據(jù)變動范圍、相對偏差、UCL(控制上限)、LCL(控制下限)、CpK圖、直方圖、X-bar/R圖等多種數(shù)據(jù)分析模式。
CMI900/950系列X射線熒光測厚儀能夠測量多種幾何形狀各種尺寸的樣品;
E :可測量任一測量點,最小可達(dá)0.025 x 0.051毫米 http://www.zhengyee.com
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