深圳市鼎極天電子有限公司

主營:X射線熒光測厚儀,鍍層測厚儀,電鍍層膜厚測試儀,孔銅測厚儀,面銅測厚儀
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[供應(yīng)]面銅測厚儀CMI165,銅箔測厚儀,線路板銅厚測試儀,牛津X射線光管
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  • 產(chǎn)品產(chǎn)地:英國
  • 產(chǎn)品品牌:英國牛津
  • 包裝規(guī)格:CMI165
  • 產(chǎn)品數(shù)量:100
  • 計(jì)量單位:臺
  • 產(chǎn)品單價(jià):15000
  • 更新日期:2024-08-27 09:41:59
  • 有效期至:2025-08-27
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面銅測厚儀CMI165,銅箔測厚儀,線路板銅厚測試儀,牛津X射線光管 詳細(xì)信息

面銅測厚儀 CMI165

      CMI165是一款人性化設(shè)計(jì)、堅(jiān)固耐用的世界首款帶溫度補(bǔ)償功能的手持式面銅測厚儀。

    CMI165獨(dú)有的溫度補(bǔ)償功能確保測量結(jié)果精確而不受銅箔溫度的影響,儀器配有探針防護(hù)罩,確保探針的耐用性;配備探頭照明方便測量時(shí)準(zhǔn)確定位。

 

產(chǎn)品特色:

—— 可測試高溫的PCB銅箔

—— 顯示單位可為mils,μm或oz

—— 可用于銅箔的來料檢驗(yàn)

—— 可用于蝕刻或整平后的銅厚定量測試

—— 可用于電鍍銅后的面銅厚度測試

—— 配有SRP-T1,帶有溫度補(bǔ)償功能的面銅測試頭

—— 可用于蝕刻后線路上的面銅厚度測試

 

產(chǎn)品規(guī)格:

——利用微電阻原理和獨(dú)有的溫度補(bǔ)償功能通過四針式SRP-T1探頭進(jìn)行銅厚測量,符合EN 14571測試標(biāo)準(zhǔn)

——厚度測量范圍:化學(xué)銅:0.25 - 12.7 μm(0.01 - 0.5 mils)
                                                        電鍍銅:2.0 - 254 μm(0.1 - 10 mils)

——儀器再現(xiàn)性:  0.08 μm at 20 μm (0.003 mils at 0.79 mils)

——強(qiáng)大的數(shù)據(jù)統(tǒng)計(jì)分析功能,包括數(shù)據(jù)記錄平均數(shù)、標(biāo)準(zhǔn)差和上下限提醒功能

——儀器的操作界面有英文和簡體中文兩種語言供選擇

——儀器無需特殊規(guī)格標(biāo)準(zhǔn)片,可實(shí)現(xiàn)蝕刻后的線型銅箔的厚度測量,可測線寬范圍低至0.2 mm

——儀器可以儲存9690條檢測結(jié)果(測試日期時(shí)間可自行設(shè)定)

——測試數(shù)據(jù)通過USB2.0實(shí)現(xiàn)高速傳輸,也可保存為Excel格式文件

——儀器為工廠預(yù)校準(zhǔn)

——客戶可根據(jù)不同應(yīng)用靈活設(shè)置儀器

——用戶可選擇固定或連續(xù)測量模式

——儀器使用普通AA電池供電

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