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信維S20系列光時(shí)域反射儀


ShinewayTech? 的palmOTDR系列掌上型光時(shí)域反射儀是一款獨(dú)具匠心的光纖線路分析尋障產(chǎn)品，為光纖通信網(wǎng)測(cè)試提供了一種全新的應(yīng)用方式，其穩(wěn)定性和驚人的性價(jià)比在全球范圍內(nèi)廣受矚目。

其與傳統(tǒng)OTDR相比，尺寸更加小巧，操作更為簡(jiǎn)潔，獨(dú)特的熱鍵功能使事件的瀏覽和分析更加快捷；功能齊全，全面滿足單模(1310/1550nm)、多模(850/1300nm)光纖測(cè)試應(yīng)用需求，支持平均/實(shí)時(shí)雙測(cè)量模式；其多功能背包亦充分考慮到了野外作業(yè)和實(shí)驗(yàn)室測(cè)試的操作方便，可充分滿足不同用戶和各種現(xiàn)場(chǎng)測(cè)試需求，使其成為目前發(fā)展迅速的農(nóng)話網(wǎng)、城域網(wǎng)和FTTx光纖施工、例檢、搶修和維護(hù)中的首選工具。

另外，其強(qiáng)大的內(nèi)部存儲(chǔ)能力，可與隨機(jī)配帶的跡線管理軟件——TraceManager通信，實(shí)現(xiàn)測(cè)量結(jié)果的后期分析處理、存檔及打印；其可互換光接頭設(shè)計(jì)，滿足了多種連接器類(lèi)型的應(yīng)用需求。

 


v 性能特點(diǎn)：

l 輕巧便攜，針對(duì)農(nóng)話網(wǎng)、城域網(wǎng)應(yīng)用

l 功能齊全，單/多模應(yīng)用可選

l 高測(cè)距精度，大容量數(shù)據(jù)存儲(chǔ)(300條測(cè)試曲線)

l 無(wú)硬盤(pán)設(shè)計(jì)，防震、防潮，適合野外環(huán)境

l 配有RS232/USB接口，支持?jǐn)?shù)據(jù)上傳

l PC機(jī)分析軟件方便測(cè)試數(shù)據(jù)歸檔和報(bào)表

l LCD顯示激光器發(fā)射和電池狀態(tài)

l 內(nèi)置NiMH充電電池，一次充電可支持至少 4小時(shí)連續(xù)測(cè)量

l 具有電池電量不足提前報(bào)警功能，報(bào)警后你仍有足夠的操作時(shí)間

l 通過(guò)CE、FCC、FDA認(rèn)證

l 通過(guò)1米墜落測(cè)試

 


v 應(yīng)用范圍：

palmOTDR主要用于進(jìn)行下列測(cè)試：確定光纜/光纖故障點(diǎn)、聯(lián)接點(diǎn)/斷點(diǎn)位置，描述光纜、光纖損耗分布曲線，測(cè)量纜光纖長(zhǎng)度、兩點(diǎn)之間的距離、損耗、衰減數(shù)，測(cè)量光纜、光纖連接頭的插入損耗，測(cè)量光纜、光纖反射損耗。

可廣泛適用于城域網(wǎng)、廣域網(wǎng)、CATV、局域網(wǎng)等通訊系統(tǒng)中單/多模光纖光纜的安裝、排障、改造和維護(hù)，要定位、排除長(zhǎng)距離光纖中帶故障的連接頭、壞的接續(xù)點(diǎn)，palmOTD都是一種性能優(yōu)異、價(jià)格實(shí)惠的測(cè)試工具。







v 技術(shù)參數(shù)

型 號(hào)
 palmOTDR-S20
 palmOTDR-M20
 
S20A/N
 S20B/N
 S20C/N
 M20A/N
 
動(dòng)態(tài)范圍(dB)
 24/24
 32/32
 38/37
 18/22
 
光纖類(lèi)型
 單模
 多模
 
波    長(zhǎng)(±20nm)
 1310/1550
 850/1300
 
顯示屏類(lèi)型
 TFT純彩
 
光源類(lèi)型
 LD
 
光 接 口
 FC/PC(可互換SC, ST)
 
測(cè)試范圍(Km)
 0.3、1.3、2.5、5、10、20、40、80、120、160、240
 0.1、0.3、0.5、1.3、2.5、5、10@850nm;

0.1、0.3、0.5、1.3、2.5、5、10、20、40、80@1300nm
 
脈    寬 
 5ns、10ns、12ns、30ns、100ns、275ns、300ns、1μs、2.5μs、10μs、20μs
 12ns、30ns、100ns、275ns、1μs@850nm;

12ns、30ns、100ns、275ns、1μs、2.5μs@1300nm
 
測(cè)量時(shí)間
 15s、30s、1min、2min、3min
 
衰減盲區(qū) 
 25m
 15m
 20m
 
事件盲區(qū) 
 10m
 3m
 7m
 
測(cè)距精度
 ±(1 m + 5×10-5×距離+取樣間距)
 
衰減測(cè)量精度
 ±0.05dB/dB
 
反射測(cè)量精度
 ±4dB
 
數(shù)據(jù)存儲(chǔ)
 300條測(cè)試曲線