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儀
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牛津無損電鍍膜厚測試儀CMI900 ,專業(yè)測量金、銀 鈀 銠 鎳 銅 錫 等貴金屬多
鍍層膜厚測量,快速 精準 無損,業(yè)內廣受好評,客戶應
用廣泛在 五金 連接器 PCB LED支架等行業(yè)以形成行業(yè)測量的標準。歡迎廣大五
金連接器客戶聯(lián)系 測量量樣品 洽談往來 本公司經營多年工程師經驗豐
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件,CMI900 維修 回收 以及ROHS檢測設備國產頂級ROHS分析檢測儀,臺式元素分
析儀。本儀器具有測量誤差小、可靠性高、穩(wěn)定性好、操作簡便等特點,是控制
和保證產品質量必不可少的檢測儀器,廣泛地應用在制造業(yè)、金屬加工業(yè)、化工
業(yè)、商檢等檢測領域。
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儀器介紹
CMI 900 系列X射線熒光測厚儀是一種功能強大的材料涂/鍍層測量儀器,可應用
于材料的涂/鍍層 厚度、材料組成、貴金屬含量檢測等領域,為產品質量控制提
供準確、快速的分析.基于WindowsXP
中文視窗系統(tǒng)的中文版 SmartLink FP 應用軟件包,實現(xiàn)了對CMI900主機的全面
自動化控制,
PCB 五金 LED 連接器 表面處理等行業(yè)
技術參數(shù):
CMI 900 X-射線熒光鍍層厚度測量儀,在技術上一直以來都領先于全世界的測厚行
業(yè)
A CMI 900 能夠測量包含原子序號22至92的典型元素的電鍍層、鍍層、表膜和液
體,極薄的浸液鍍層
(銀、金、鈀、錫等)和其它薄鍍層。區(qū)別材料并定性或定量測量合金材料的成
份百分含量可同時測定最多5層、15 種元素。
B :精確度領先于世界,精確到0。025um (相對與標準片)
C :數(shù)據統(tǒng)計報告功能允許用戶自定義多媒體分析報告格式,以滿足您特定的分
析報告格式要求 ;
如在分析報告中插入數(shù)據圖表、測定位置的圖象、CAD文件等。
D :統(tǒng)計功能提供數(shù)據平均值、誤差分析、最大值、最小值、數(shù)據變動范圍、相
對偏差、UCL(控制上限)、LCL(控制下限)、CpK圖、直方圖、X-bar/R圖等多種數(shù)
據分析模式。
CMI900系列X射線熒光測厚儀能夠測量多種幾何形狀各種尺寸的樣品;
E :可測量任一測量點,最小可達0.025 x 0.051毫米
牛津儀器CMI900電鍍膜厚測量儀