界面針/定位針/BGA針/直鋼針/絕緣針/離子針/微型探針探針根據(jù)電子測試用途可分為: A、光電路板測試探針:未安裝元器件前的電路板測試和只開路、短路檢測探針,國內(nèi)大部分的探針產(chǎn)品均可替代進口產(chǎn)品; B、在線測試探針:PCB線路板安裝元器件后的檢測探針;高端產(chǎn)品的核心技術(shù)還是掌握在國外公司手中,國內(nèi)部分探針產(chǎn)品已研發(fā)成功,可替代進口探針產(chǎn)品; C、微電子測試探針:即晶圓測試或芯片IC檢測探針,核心技術(shù)還是掌握在國外公司手中,國內(nèi)生產(chǎn)廠商積極參與研發(fā),但只有一小部分成功生產(chǎn)。 探針主要類型:懸臂探針和垂直探針?! ? 懸臂探針:劈刀型(Blade?。裕穑澹┖铜h(huán)氧樹脂型(Epoxy Type) 垂直探針:垂直型(Vertical Type) 1.ICT探針 (ICT?。螅澹颍椋澹蟆。校颍铮猓澹螅 ? 一般直徑在2.54mm-1.27mm之間,有業(yè)內(nèi)的標(biāo)準(zhǔn)稱呼100mil,75mil,50mil,還有更特別的直徑只有0.19mm,主要用于在線電路測試和功能測試. 也稱ICT測試和FCT測試.也是目前應(yīng)用較多的一種探針. 2.界面探針(Interface Probes) 非標(biāo)準(zhǔn)的探針,一般是為少數(shù)做大型測試機臺的客戶定做的,例如泰瑞達(dá)(Teradyne)和安捷倫(Agilent).用于測試機臺與測試夾具的接觸點和面. 3.微型探針(MicroSeries Probes) 兩個測試點中心間距一般為0.25mm至0.76mm. 4.開關(guān)探針(Switch?。校颍铮猓澹螅 ¢_關(guān)探針單獨一支探針有兩路電流. 5.高頻探針(Coaxial Probes) 用于測試高頻信號,有帶屏蔽圈的可測試10GHz以內(nèi)的和500MHz不帶屏蔽圈的. 6.旋轉(zhuǎn)探針(Rotator?。校颍铮猓澹螅 椓σ话悴桓?,因為其穿透性本來就很強,一般用于OSP處理過的PCBA測試. 7.高電流探針(High Current Probes) 探針直徑在2.54mm-4.75mm之間測試電流可達(dá)39amps. 8.半導(dǎo)體探針 (Semiconductor Probes) 直徑一般在0.50mm-1.27mm之間.帶寬大于10GHz,50Ω characteristic 9.電池接觸探針?。ǎ拢幔簦簦澹颍。幔睿洹。茫铮睿睿澹悖簦铮颉。茫铮睿簦幔悖簦螅 ∫话阌糜趦?yōu)化接觸效果,穩(wěn)定性好和壽命長. 除以上類型外還有溫度探針,Kelvin探針等,比較少用
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