UX-700  鍍層厚度檢測儀  華唯 
      配置型號
探測器
X光管
高壓電源
Ux-700  M
AMPTEK  Si-PIN  X-123(進口)
上??祁U維(國產(chǎn))
咸陽威思曼(國產(chǎn))
Ux-700  H
AMPTEK  Si-PIN  X-123(進口)
上海科頤維(國產(chǎn))
spellman(進口)
Ux-700  S
AMPTEK  SDD  X-123(進口)
上??祁U維(國產(chǎn))
spellman(進口
產(chǎn)品介紹:
        本著對插接件等細小結(jié)構(gòu)件的單鍍層和多鍍層厚度的測量,Ux-700更專業(yè)小樣品測試腔的設計,帶有聚焦光點的準直器,高分辨率的探測系統(tǒng),眾多最佳條件的選擇,保證測試結(jié)果的準確性。
        X射線熒光技術(shù)測試鍍層厚度的應用,提高了大批量生產(chǎn)電鍍產(chǎn)品的檢驗條件,無損、快速和更準確的特點,對在電子和半導體工業(yè)中品質(zhì)的提升有了檢驗的保障。
        Ux-700鍍層測厚儀配備了XY軸微移動平臺,可以通過鼠標的點擊操作,選擇樣品的多點測試,特別適應于細小結(jié)構(gòu)多種不同鍍層材料的測試。
        Ux-700鍍層測厚儀具有高清晰、高放大倍數(shù)的攝像設備,測試樣品的部位清楚明了,同時攝像設備拍抓測試部位的圖片,和測試數(shù)據(jù)結(jié)果一同出現(xiàn)在測試報告中。
        Ux-700鍍層測厚儀采用了華唯最新專利技術(shù)FlexFp  -Multi,不在受標準樣品的限制,在無鍍層標樣的情況下直接可以測試樣品的鍍層厚度。
 
產(chǎn)品指標:
測厚技術(shù):X射線熒光測厚技術(shù)
測試樣品種類:金屬鍍層,合金鍍層
測量下限:0.003um
測量上限:30-50um(以材料元素判定)
測量層數(shù):10層
測量用時:30-120秒
探測器類型:Si-PIN電制冷     
探測器分辨率:149eV
高壓范圍:5-50Kv,50W
X光管參數(shù):5-50Kv,50W,側(cè)窗類;
光管靶材:Mo靶;
濾光片:專用鍍層濾光片
CCD觀察:260萬像素
微移動范圍:XY15mm
輸入電壓:AC220V,50/60Hz
測試環(huán)境:非真空條件
數(shù)據(jù)通訊:USB2.0模式
準直器:?0.5mm
軟件方法:FlexFP-Mult
工作區(qū):開放工作區(qū)  自定義
樣品腔:70*20mm
整機重量:38kg
 
鍍層測厚方法:
1.磁性涂層測厚法
        使用磁性測厚法可測鐵、鋼導磁金屬上面的所有非導磁金屬和所有非導電層的厚度,如鐵上鍍銅、鋅、鉻、金、銀等,涂的油漆、塑料、橡膠、磷化膜、玻璃鋼等。
2.渦流層層測厚法
        可以測量非導磁導電金屬上面非導電涂層的厚度,如不銹鋼、銅、鋁金屬上的油漆層、氧化膜、磷化膜、玻璃鋼、橡膠等圖層的厚度
3.X射線熒光法
        所有金屬材料/非金屬材料上單金屬成分、2元或多元合金材料的單層和多層厚度的測試,同時可以測試鍍層材料的合金成分含量比例。
 
常用單位:
微米(um),微英寸(u‘’)俗語“邁”,密耳(mil)
1um=3
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