膜厚檢測
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電鍍層的厚度測量方法分破壞性測量和非破壞性測量兩大類。
屬于破壞性測量的方法有計時液流法,點滴測厚法,庫侖法,金相法等,屬于非破壞性的測量方法有磁性法,渦流法,β射線反向散射法,X-ray法,掃描電鏡法等。
鍍膜厚度檢測標準:ASTM?E376-06 ,ASTMB659-08,ASTMB499-09,DINENISO2178-1995,GB/T4956-2003,GB/T4957-2003
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