納米硅薄膜太陽能用高低溫試驗箱|高低溫試驗機|高低溫試驗箱
納米硅薄膜太陽能用高低溫試驗箱測試目的:確定組件于溫度重復變化時,引起的疲勞和其它應力的熱失效。
產品用途:太陽能電池模塊的設計使用年限大約是20~30年,而可靠度試驗是仿真陸上太陽光電模塊(晶硅、非晶硅、薄膜、聚光型)的設計驗證,讓模塊能夠在一般氣候下長期操作20年以上,規(guī)范要求太陽能電池需進行:Thermal cycle test(溫度循環(huán)測試)、Humidity-freeze test(濕冷凍測試)、Damp Heat(濕熱測試),以確認太陽能電池能夠承受高溫高濕之后隨級的零下溫度影響,以及對于溫度重復變化時引起的疲勞和熱失效,另外確定太陽能電池能夠抵抗?jié)駳忾L期滲透之能力。
 
納米硅薄膜太陽能用高低溫試驗箱
(IEC61215 , IEC61646 , UL1703,IEC62108 , IEEE1513,IEC61730 )
 
相關規(guī)范資料介紹:
硅晶太陽能:IEC61215、UL1703、GB9535
薄膜太陽能:IEC61646、GB18911
聚光太陽能:IEC62108、IEEE1513 humidity-freeze test(濕冷凍測試)
 
納米硅薄膜太陽能用高低溫試驗箱技術規(guī)格:
產品型號:TH-容量
內箱尺寸:按客戶要求外型尺寸:
 
納米硅薄膜太陽能用高低溫試驗箱性能參數(shù):
▲測試環(huán)境條件下:環(huán)境溫度為+25℃、相對濕度≤85%、試驗箱內無試樣條件下
▲測試方法:GB/T 5170.2-1996溫度試驗設備/GB/T 5170.5-1996濕熱試驗設備(僅濕熱型)
▲溫度范圍:負載-40℃→+85℃/(空載-70℃到150℃)
▲溫度波動:±0.5℃
▲溫度分布精度:±2.0℃
▲濕度范圍:20%~98%R.H
▲濕度波動:±2.5%R.H.
▲濕度分布精度:±4.0%.
 
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