寧波海曙聯(lián)欣電子科技有限公司

主營:休止角測量儀,無粘性土休止角試驗(yàn)儀,粉末涂料流動(dòng)性測定儀,粉末涂料膠化時(shí)間測定儀,粉末電阻率測試儀,導(dǎo)體粉末電阻率測試儀,碳素粉末電阻率測試儀,焦化粉末電阻率測試儀,粉末冶金電阻率測試儀,粉體電阻率測試儀, 粉末敲擊密度儀,粉末振實(shí)密度儀,冶金粉末振實(shí)密度計(jì),碳粉振實(shí)
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[供應(yīng)]熱銷金屬化標(biāo)簽四探針測試儀
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  • 產(chǎn)品數(shù)量:1111
  • 計(jì)量單位:臺(tái)
  • 產(chǎn)品單價(jià):0
  • 更新日期:2016-04-02 13:23:56
  • 有效期至:2017-04-02
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熱銷金屬化標(biāo)簽四探針測試儀 詳細(xì)信息

合金類箔膜四探針電阻率測試儀 合金類箔膜電阻測試儀

熔煉電導(dǎo)率測試儀 熔煉表面比電阻測試儀  

熔煉多功能數(shù)字式四探針測試儀

FT-371超高阻雙電四探針測試儀

一、概述:本品為解決四探針法測試超高阻值材料方阻及電阻率,最大可以測試到1010Ω方阻值,是目前同行業(yè)中能測量到的最大方阻值,選購:本機(jī)還可以配合各類環(huán)境溫度試驗(yàn)箱體使用,通過不同的測量治具滿足不同環(huán)境溫度下測量方阻和電阻率的需求.采用高精度AD芯片控制,恒流輸出,結(jié)構(gòu)合理、質(zhì)量輕便,運(yùn)輸安全、使用方便;適用于生產(chǎn)企業(yè)、高等院校、科研部門,是檢驗(yàn)和分析導(dǎo)體材料和半導(dǎo)體材料質(zhì)量的一種重要的工具。本儀器配置各類測量裝置可以測試不同材料。液晶顯示,無需人工計(jì)算,并帶有溫度補(bǔ)償功能,電阻率單位自動(dòng)選擇,儀器自動(dòng)測量并根據(jù)測試結(jié)果自動(dòng)轉(zhuǎn)換量程,無需人工多次和重復(fù)設(shè)置。選配:配備軟件可以由電腦操控,并保存和打印數(shù)據(jù),自動(dòng)生成報(bào)表;本儀器采用4.3吋大液晶屏幕顯示,同時(shí)顯示液晶顯示:電阻、電阻率、方阻、溫度、單位換算、溫度系數(shù)、電流、電壓、探針形狀、探針間距、厚度 、電導(dǎo)率,配置不同的測試治具可以滿足不同材料的測試要求。測試治具可以根據(jù)產(chǎn)品及測試項(xiàng)目要求選購.

雙電測數(shù)字式四探針測試儀是運(yùn)用直線或方形四探針雙位測量。

二、廣泛用于:覆蓋膜 導(dǎo)電高分子膜,高、低溫電熱膜 隔熱、防輻射導(dǎo)電窗膜 導(dǎo)電(屏蔽)布、裝飾膜、裝飾紙 金屬化標(biāo)簽、合金類箔膜 熔煉、燒結(jié)、濺射、涂覆、涂布層,電阻式、電容式觸屏薄膜 電極涂料,其他半導(dǎo)體材料、薄膜材料方阻測試

硅晶塊、晶片電阻率及擴(kuò)散層、外延層、ITO導(dǎo)電箔膜、導(dǎo)電橡膠等材料方塊電阻  半導(dǎo)體材料/晶圓、太陽能電池、電子元器件,導(dǎo)電薄膜(ITO導(dǎo)電膜玻璃等),金屬膜,導(dǎo)電漆膜,蒸發(fā)鋁膜,PCB銅箔膜,EMI涂層等物質(zhì)的薄層電阻與電阻率  導(dǎo)電性油漆,導(dǎo)電性糊狀物,導(dǎo)電性塑料,導(dǎo)電性橡膠,導(dǎo)電性薄膜,金屬薄膜,抗靜電材料, EMI 防護(hù)材料,導(dǎo)電性纖維,導(dǎo)電性陶瓷等

三、參數(shù)資料

1.方塊電阻范圍:101~2×1010Ω/□

2.電阻率范圍:102~2×1011Ω-cm

3.測試電流范圍:1mA  ——-1pA   

4.電流精度:±0.1%讀數(shù)

5.電阻精度:108Ω以下≤5%  ;108Ω以上≤20%

6.顯示讀數(shù):液晶顯示:電阻、電阻率、方阻、溫度、單位換算、溫度系數(shù)、電流、電壓、探針形狀、探針間距、厚度 、電導(dǎo)率.

7.測試方式: 雙電測量

8.工作電源: 輸入: AC 220V±10% ,50Hz  功 耗:< 30W

9.整機(jī)不確定性誤差: ≤4%(標(biāo)準(zhǔn)樣片結(jié)果)

10.選購功能: 選購1.pc軟件; 2.方形探頭; 3.直線形探頭; 4.測試平臺(tái)

11.測試探頭:  探針間距選購:1mm;2mm;3mm三種規(guī)格 探針材質(zhì)選購:碳化鎢針 白鋼針;鍍金磷銅半球形針

  ROOKO/瑞柯品牌,來自瑞柯儀器公司,一個(gè)專注于改變?nèi)藗兩罘绞胶推焚|(zhì)的企業(yè).

該儀器設(shè)計(jì)符合單晶硅物理測試方法國家標(biāo)準(zhǔn)并參考美國  A.S.T.M  標(biāo)準(zhǔn)。利用電流探針、電壓探針的變換,進(jìn)行兩次電測量,對數(shù)據(jù)進(jìn)行雙電測分析,自動(dòng)消除樣品幾何尺寸、邊界效應(yīng)以及探針不等距和機(jī)械游移等因素對測量結(jié)果的影響,它與單電測直線或方形四探針相比,大大提高精確度,特別是適用于斜置式四探針對于微區(qū)的測試。

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